Puebla, propiedad industrial y semiconductores (parte 2) | Las entrañas de la PI



Una línea de ensamblaje de semiconductores es un proceso altamente automatizado y preciso que involucra varias etapas fundamentales para la fabricación de microchips y otros componentes electrónicos.

Aquí está una descripción de cómo podría estructurarse:

  • Preparación del Material: Los obleas de silicio, que sirven como base para los semiconductores, se limpian y preparan para el procesamiento.
  • Fotolitografía: Se aplica una capa de material fotosensible sobre la oblea, y se utiliza luz ultravioleta para proyectar patrones específicos que definen las áreas donde se realizarán modificaciones.
  • Grabado: Las áreas que no están protegidas por el material fotosensible son grabadas químicamente o mediante procesos físicos para crear los circuitos en la oblea.
  • Depósito de Material: Se añaden capas de materiales conductores, como cobre, o aislantes según el diseño del dispositivo.
  • Inspección y Pruebas: Durante cada etapa, se llevan a cabo inspecciones utilizando tecnología avanzada (como microscopios electrónicos) para garantizar precisión.
  • Corte y Ensamblaje: Las obleas se cortan en chips individuales, que luego se ensamblan y encapsulan en carcasas protectoras.
  • Pruebas Finales: Los semiconductores terminados se someten a pruebas funcionales y de calidad para asegurar que cumplen con los estándares requeridos.

Este proceso requiere ambientes extremadamente limpios (salas blancas) para evitar contaminantes y maquinaria avanzada que opere con altísima precisión. Es fascinante y fundamental para la tecnología moderna

La inspección de semiconductores utiliza tecnologías avanzadas para garantizar la calidad y precisión en cada etapa del proceso de fabricación.

Algunas de las principales tecnologías incluyen:

  • Microscopía Electrónica (SEM y TEM): Estas técnicas permiten inspeccionar estructuras a nivel nanométrico con alta resolución, esenciales para detectar defectos en dispositivos avanzados.
  • Microscopía de Fuerza Atómica (AFM): Proporciona imágenes detalladas de la superficie de los semiconductores, útil para analizar irregularidades.
  • Sistemas Ópticos: Utilizan luz para inspeccionar obleas y chips a gran velocidad, ideales para detectar defectos superficiales.
  • Haz de Electrones (E-Beam): Una técnica no invasiva que identifica defectos extremadamente pequeños, crucial para semiconductores de última generación.
  • Mapeo 3D: Permite una inspección tridimensional precisa, especialmente útil para estructuras complejas como FinFET y 3D NAND.
  • Inteligencia Artificial (IA): Se integra para analizar datos de inspección, mejorando la detección de defectos y optimizando los procesos.

Taiwán lidera la fabricación de semiconductores a nivel mundial, con una participación de mercado de aproximadamente el 60%2. Empresas como TSMC (Taiwan Semiconductor Manufacturing Company) son clave en este dominio, produciendo chips avanzados utilizados por gigantes tecnológicos como Apple y NVIDIA.

Además, Corea del Sur ocupa el segundo lugar, con una participación del 20%, gracias a empresas como Samsung Electronics y SK Hynix. Estados Unidos, aunque no lidera en fabricación, destaca en el diseño e innovación de chips

Puebla tiene potencial para participar en la industria de semiconductores, pero aún enfrenta desafíos para consolidarse como un actor clave. Según análisis recientes, Puebla cuenta con recursos y capacidades en sectores relacionados, como la industria automotriz y la investigación tecnológica, gracias a instituciones como el INAOE y la BUAP2. Sin embargo, carece de la especialización necesaria para competir directamente con otras regiones más avanzadas en este campo.

Se están realizando esfuerzos para fortalecer su posición, como proyectos de colaboración entre academia, industria y gobierno, y la creación de infraestructura tecnológica en áreas estratégicas. Con el tiempo y las inversiones adecuadas, Puebla podría convertirse en un jugador importante en la cadena de suministro de semiconductores.

Consultor Propiedad Industrial y análisis de operaciones

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Editor: Fabián Sánchez

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